日本 KETT 进口一手渠道 LZ-200J双型膜厚计，牌膜厚计 LZ-200J
KETT株式会社 ケツト科学研究所我们的产品按照ISO 9001：质量管理体系制造。适用范围：水分仪、成分分析仪、核鉴别器和涂层测厚仪的设计、开发、制造控制、校准和维修。..钟先生：186-8849-6582发布红外水份测定仪“FD-600”、涂层厚度测试仪“L-900”、沥青含量测试仪“FG-100”、大米和小麦水份测定仪“米粒E”。1996庆祝成立50周年。发布红外水分测定仪“FD-240”、
我们的产品按照ISO 9001：质量管理体系制造。
适用范围：水分仪、成分分析仪、核鉴别器和涂层测厚
仪的设计、开发、制造控制、校准和维修。
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钟先生：186-8849-6582
发布红外水份测定仪“FD-600”、涂层厚度测试
仪“L-900”、沥青含量测试仪“FG-100”、大米和小
麦水份测定仪“米粒E”。
1996
庆祝成立50周年。发布红外水分测定仪“FD-240”、谷
物水分测试仪“PM-400”和无线涂层厚度测试仪“L-
300W”。
1998
总部大楼对面的2号楼技术中心竣工。取得ISO9001认证
2000-04
发布大米和小麦水分测试仪“米斯特m”，混凝土和砂
浆水分测试仪“HI-520”和红外水分测定仪“FD-720”
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2005-09
发布单粒大米检测仪“RN-600”、涂层厚度测试
仪“LZ-990”、纸水分测试仪“HK-300”和大米和小麦
水分测定仪“米粒f”。
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LZ-200J双型膜厚计，日本凯特KETT牌膜厚计
電磁式と渦電流式の両機能を備え、しかもプリン タを内蔵したポータブルタイプの膜厚計です。 磁性金属上および非磁性金属上のさまざまな被 膜厚測定にすばやく対応します。ボタンひとつ で平均値・標準偏差・最大値・最小値が求められる 統計計算機能、キャリブレーション・メモリ機能、 リミット設定機能などを装備しています。
●仕様 LZ-200J 測定方式 電磁誘導式/渦電流式兼用 測定対象 磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 測定範囲 電磁式：0～1500μmまたは60.00mils
渦電流式：0～800μmまたは32.00mils 測定精度 電磁式：15μm未満：±0.3μm、15μm以上：±2％
渦電流式：50μm未満：±1μm、50μm以上：±2％ 分解能 100μm未満：0.1μm、100μm以上：1.0μm 適合規格 電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376 統計機能 測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号 プローブ 一点接触定圧式（LEP-J、LHP-J） 表示方法 デジタル（LCD、表示最小桁0.1μm） 外部出力 RS-232Cインターフェース（転送速度2400bps） 電源 AC100V（50/60Hz）または
電池1.5V（単3アルカリ） 本体部×6、プリンタ部×4 寸法・質量 120（W）×250（D）×55（H）mm、1.0kg 付属品 標準板、鉄素地、アルミ素地、標準板ケース、電池1.5V（単3アルカリ）、ACアダプタ、 プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース オプション L字型プローブ（LEP-21L）、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」
（McWAVE Lite、McWAVE Standard、McWAVE Professional、MultiPropはCEC社の商標です。）
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2010-11
发布干面水分测定仪“HB-400”，玻璃速率计“RN-840
”，未抛光/抛光米白度计“C-600”。
2012-13
发布涂层厚度测试仪“L-373”，公路桥地板系统快速
水份测定仪“HI-100”，荞麦面水份测定仪“PM-630”
和iPad应用程序，用于田间作物检验标准。
2014-15
发布红外水份测定仪“FD-660”、谷物水分测定
仪“PM-650”和近红外水份测定仪“KB-30”。
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