大塚电子 OTSUKA株式会社日本进口 LCD评价装置（面板模块检查）液晶显示器系列 LCD-7200 大塚电子-前田TONE 日本前田TONE工具総合工具メーカーＴＯＮＥ

OTSUKA 大塚电子株式会社

主营：
（一）科学仪器、光学仪器、医疗器械、工业测量仪器及其零配件的开发
、制造、销售、修理和进出口;
（1）试剂的生产、销售、进出口
（三）支持取得医疗器械经营许可证和医疗器械

生产
、上市审批申请（2）科学仪器、光学仪器、使用工业测量仪器的合同测
量和数据提供
（3）与上述各项相关的所有业务

产品信息

ME 设备分析仪器泽塔电位测量粒度和粒度分布测量
分子量差异折射毛细管电泳仪表光谱相关设备
薄膜测厚仪和测厚仪过程评估设备功能材料评价设备
薄膜评估设备半导体评估设备光源和照度评估设备
FPD相关评估设备

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ME 设备

汇集尖端技术，通过开发临床试验和医疗设备，为人们的健康做出贡献

分析仪器

作为新材料分析核心技术的光散射技术在广泛领域的应用

仪表

将我们多年来培养的光谱测量和分析技术扩展到一个新的世界

ME 设备
离散自动临床化学分析仪 Hemotect NS-Prime

这是一款全自动粪便人血红蛋白分析仪，可通过胶体金比色法精确测量粪
便中的人血红蛋白。
（医疗器械公告第27B1X00055000008号）

红外光谱仪新增功能

POConePlus可以指：13使用呼气收集袋测量用于使用C尿素制剂的尿素呼气
测试方法的呼气分析的医疗设备。
碳的同位素12一氧化碳2和13一氧化碳2利用在中存在吸收差异的优势。
（医疗器械批准文号：23000BZX00214000）

荧光免疫色谱仪 DiaScan α

它是一款超紧凑型免疫色谱读数仪，是即时检测（POCT）的理想选择。

血细胞去除装置阿达监视器 SC

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. LCD评价装置（面板模块检查）液晶显示器系列LCD-7200日本OTSUKA大塚电子LCD评价装置（面板模块检查）液晶显示器系列LCD-7200日本OTSUKA大塚电子LCD评价装置（面板模块检查）液晶显示器系列LCD-7200日本OTSUKA大塚电子LCD评价装置（面板模块检查）液晶显示器系列LCD-7200日本OTSUKA大塚电子LCD评价装置（面板模块检查）液晶显示器系列LCD-7200日本OTSUKA大塚电子LCD评价装置（面板模块检查）液晶显示器系列LCD-7200日本OTSUKA大塚电子特　長
視野角80°に対応した360°ビューイングコーン（視野角特性）の測定が可能 LCDパネル・モジュールの電気光学特性を温度可変（-35℃～+90℃）にて自動測定が可能 XYφ自動ステージを内蔵高精度で自由度の高い投受光角度の位置決めが可能高精度なコントラスト比測定を実現する高リニアリティのPMT検出器と高速スペクトル測定を実現する高感度マルチチャンネル分光機(MCPD)を装備反射型LCDパネル測定には、平行光照射方式、全方向拡散照射方式（オプ
ション）、全方位リング照射方式（オプション）が対応可能常温下測定仕様もラインアップ
測定項目
透過率・反射率・相対輝度測定コントラスト比測定応答時間（応答速度）測定分光スペクトル測定色度・明度・色差測定視野角特性反射特性（入射角・照射角特性） V-T（電圧・透過・反射）特性階調（ガンマ）特性透過率・反射率・輝度分布温度特性
可変パラメータ
XY測定位置座標投受光角度回転角度駆動電圧・階調温度
測定対象
LCD（液晶）モジュール・パネル OLED（有機EL）モジュール・パネルその他ディスプレイ（車載用含む）
仕　様
型式 LCD-7200 LCD-5200 サンプルサイズ * 390 × 310mm 240 × 210mm 測定径 φ0.03, φ0.1, φ0.7, φ3 mm 検出器マルチチャンネル分光光度計,
PMT(光電子増倍管, Y視感度フィルタ付) 試料ステージ XYZ軸 X軸：± 160mm（自動） X軸：± 80mm（自動） Y軸：± 120mm（自動） Y軸：± 70mm（自動） Z軸：0 ～ -60mm Z軸：0 ～ -50mm 回転角 0 ～ 180° 角度投光角（θs） ± 70°（透過・反射測定時）受光角（θr） ± 70°（測定径：φ0.03mm, φ0.1mm）
± 80°（測定径：φ0.7mm, φ3mm）任意波形発生器出力チャンネル数最大 4ch 出力電圧範囲 0 ～ ± 50V 周波数範囲 DC ～ 1MHｚ *　標準サンプルセットプレートの外形サイズ

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ME 设备
红外光谱仪
离散自动临床化学分析仪 Hemotect NS-Prime
荧光免疫色谱仪 DiaScan α
血细胞去除装置阿达监视器 SC
分析仪器
Zeta 电位、粒径和分子量测量系统 ELSZneo
ZETA电位和粒度测量系统 ELSZneoSE
ZITA 电位、粒径和分子量测量系统 ELSZ-2000ZS
ZETA电位测量系统 ELSZ-2000Z
粒度/分子量测量系统 ELSZ-2000S

带AS50自动进样器的多样品纳米粒径测量系统nanoSAQLA
多分析物纳米粒径测量系统纳米SAQLA
聚合物相结构分析系统PP-1000
动态光散射光度计DLS-8000系列
动态光散射光度计DLS-6500系列
静态光散射光度计SLS-6500HL
光纤动态光散射光度计FDLS-3000
高灵敏度折光仪 DRM-3000
毛细管电泳系统安捷伦 7100

仪表
显微光谱仪OPTM系列
OPTM系列带嵌入式头
MCPD系列嵌入式涂层厚度头
MCPD系列在线薄膜评估系统
线扫描胶片测厚仪®[在线型]
线扫描膜测厚仪®[离线型]
膜厚监测仪FE-300
嵌入式膜厚监测仪

多通道光谱仪 MCPD-9800/6800
椭圆光谱仪 FE-5000/5000S
光谱干涉晶圆测厚仪SF-3
高灵敏度光谱辐射计 HS-1000
总光通量测量系统 HM/FM 系列
光谱配光测量系统 GP系列
光谱辐照度测量系统
量子效率测量系统 QE-2100
延迟测量装置RETS-100nx

高速LED光学显示屏LE系列
彩色滤光片光谱特性分析仪LCF系列
电池间隙检测系统RETS系列
涂层厚度测量系统 FE-3700/5700
高速减速测量装置RE-200
高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE-5000
透射率和吸光度测量应用多通道光谱仪 MCPD 系列

用于反射率测量应用的多通道光谱仪 MCPD 系列
用于发射和荧光测量应用的多通道光谱仪 MCPD 系列
颜色测量应用多通道光谱仪MCPD系列
用于薄膜厚度测量应用的多通道光谱仪 MCPD 系列
单颗粒荧光诊断系统
量子点评估系统
负载端口涂层厚度测量系统 GS-300
超快光谱干涉仪测厚仪
紫外光谱总辐射通量测量系统
紫外光谱配光测量系统
紫外光谱辐照度测量系统
紫外光谱辐射计
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大塚电子 OTSUKA株式会社 日本进口 LCD评价装置（面板模块检查）液晶显示器系列 LCD-7200 大塚电子

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