大塚电子 OTSUKA株式会社 日本进口 高速LED光学特性监控器 LE-A 大塚电子
OTSUKA 大塚电子株式会社主营：（一）科学仪器、光学仪器、医疗器械、工业测量仪器及其零配件的开发、制造、销售、修理和进出口; （1）试剂的生产、销售、进出口 （三）支持取得医疗器械经营许可证和医疗器械生产、上市审批申请 （2）科学仪器、光学仪器、 使用工业测量仪器的合同测量和数据提供（3） 与上述各项相关的所有业务产品信息ME 设备 分析仪器 泽塔电位测量 粒度和粒度分布测量分子量
主营：
（一）科学仪器、光学仪器、医疗器械、工业测量仪器及其零配件的开发
、制造、销售、修理和进出口;
（1）试剂的生产、销售、进出口
（三）支持取得医疗器械经营许可证和医疗器械
生产
、上市审批申请 （2）科学仪器、光学仪器、 使用工业测量仪器的合同测
量和数据提供
（3） 与上述各项相关的所有业务
产品信息
ME 设备 分析仪器 泽塔电位测量 粒度和粒度分布测量
分子量 差异折射 毛细管电泳 仪表 光谱相关设备
薄膜测厚仪和测厚仪 过程评估设备 功能材料评价设备
薄膜评估设备 半导体评估设备 光源和照度评估设备
FPD相关评估设备
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ME 设备
汇集尖端技术，通过开发临床试验和医疗设备，为人们的健康做出贡献
分析仪器
作为新材料分析核心技术的光散射技术在广泛领域的应用
仪表
将我们多年来培养的光谱测量和分析技术扩展到一个新的世界
ME 设备
离散自动临床化学分析仪 Hemotect NS-Prime
这是一款全自动粪便人血红蛋白分析仪，可通过胶体金比色法精确测量粪
便中的人血红蛋白。
（医疗器械公告第27B1X00055000008号）
红外光谱仪 新增功能
POConePlus可以指：13使用呼气收集袋测量用于使用C尿素制剂的尿素呼气
测试方法的呼气分析的医疗设备。
碳的同位素12一氧化碳2和13一氧化碳2利用在 中存在吸收差异的优势。
（医疗器械批准文号：23000BZX00214000）
荧光免疫色谱仪 DiaScan α
它是一款超紧凑型免疫色谱读数仪，是即时检测 （POCT） 的理想选择。
血细胞去除装置 阿达监视器 SC
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. 高速LED光学特性监控器LE-A日本OTSUKA大塚电子高速LED光学特性监控器LE-A日本OTSUKA大塚电子高速LED光学特性监控器LE-A日本OTSUKA大塚电子高速LED光学特性监控器LE-A日本OTSUKA大塚电子高速LED光学特性监控器LE-A日本OTSUKA大塚电子高速LED光学特性监控器LE-A日本OTSUKA大塚电子 特 長
生産ラインの制御信号との同期が可能 光ファイバーにより自由な測定系が可能 最短2ms～でのスペクトル測定を実現（LE-5400） 測定・演算・評価の1サイクルが従来製品に比べて 半分以下のハイスピードタイプもラインナップ ※ 詳細についてはお問い合わせください
測定項目
三刺激値（kX, kY, kZ） * 〔JIS Z 8724〕 色度座標(u, v) 〔CIE 1960UCS〕 色度座標(x, y) 〔JIS Z 8724〕 色度座標(u', v') 〔CIE 1976UCS〕 主波長（Dominant）と刺激純度（Purity） 〔JIS Z 8701〕 相関色温度とDuv 〔JIS Z 8725〕 演色性評価数（Ra, R1～R15） 〔JIS Z 8726〕 ピーク（λmax）の波長、高さ、半値幅 セカンドピークの波長と高さ 積分値（Summation） 重心波長 指定波長の高さ ピーク波長より短波長側、長波長側の積分値 * 明るさ(kY)の値は、測定するLEDと検出部との光学系で異なり、
アライメント(距離、位置、方向)に再現性があるときのみ有効です。
仕 様
型式 LE series タイプ A B C D 演算波長範囲 380 ～ 960 nm 300 ～ 800 nm 330 ～ 1100 nm 350 ～ 930 nm 波長精度 *1 ±0.3 nm ＊2 ±0.3 nm ＊2 ±0.5 nm ＊2 ±0.3 nm ＊2 方式 グレーティングによる分光測光方式 分光器 F = 3, f = 135mm グレーティング ブレーズドホログラフィック型 検出器 電子冷却型CCDイメージセンサ ファイバー *3 長さ約2 m, 口金直径約12 mm
LEDとの距離：通常2 mm～8 mm程度（LEDの指向特性により異なる） 消費電力 最大100 VA 本体・重量 280（W）x 160（H）x 296（D）mm， 約10 kg
*1 波長校正用光源の既知の輝線における確認値です。
*2 JIS Z 8724準拠
*3 形状、長さは変更可能です。
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ME 设备
红外光谱仪
离散自动临床化学分析仪 Hemotect NS-Prime
荧光免疫色谱仪 DiaScan α
血细胞去除装置 阿达监视器 SC
分析仪器
Zeta 电位、粒径和分子量测量系统 ELSZneo
ZETA电位和粒度测量系统 ELSZneoSE
ZITA 电位、粒径和分子量测量系统 ELSZ-2000ZS
ZETA电位测量系统 ELSZ-2000Z
粒度/分子量测量系统 ELSZ-2000S
带AS50自动进样器的多样品纳米粒径测量系统nanoSAQLA
多分析物纳米粒径测量系统纳米SAQLA
聚合物相结构分析系统PP-1000
动态光散射光度计DLS-8000系列
动态光散射光度计DLS-6500系列
静态光散射光度计SLS-6500HL
光纤动态光散射光度计FDLS-3000
高灵敏度折光仪 DRM-3000
毛细管电泳系统 安捷伦 7100
仪表
显微光谱仪OPTM系列
OPTM系列带嵌入式头
MCPD系列嵌入式涂层厚度头
MCPD系列在线薄膜评估系统
线扫描胶片测厚仪®[在线型]
线扫描膜测厚仪®[离线型]
膜厚监测仪FE-300
嵌入式膜厚监测仪
多通道光谱仪 MCPD-9800/6800
椭圆光谱仪 FE-5000/5000S
光谱干涉晶圆测厚仪SF-3
高灵敏度光谱辐射计 HS-1000
总光通量测量系统 HM/FM 系列
光谱配光测量系统 GP系列
光谱辐照度测量系统
量子效率测量系统 QE-2100
延迟测量装置RETS-100nx
高速LED光学显示屏LE系列
彩色滤光片光谱特性分析仪LCF系列
电池间隙检测系统RETS系列
涂层厚度测量系统 FE-3700/5700
高速减速测量装置RE-200
高灵敏度近红外量子效率测量系统 QE-5000
透射率和吸光度测量应用 多通道光谱仪 MCPD 系列
用于反射率测量应用的多通道光谱仪 MCPD 系列
用于发射和荧光测量应用的多通道光谱仪 MCPD 系列
颜色测量应用多通道光谱仪MCPD系列
用于薄膜厚度测量应用的多通道光谱仪 MCPD 系列
单颗粒荧光诊断系统
量子点评估系统
负载端口涂层厚度测量系统 GS-300
超快光谱干涉仪测厚仪
紫外光谱总辐射通量测量系统
紫外光谱配光测量系统
紫外光谱辐照度测量系统
紫外光谱辐射计
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